Fácil Manuseio de Amostra-Requisitos mínimos de fixação para colocação de amostra versátil
Operação fácil de usar-protocolos simples com excelente repetibilidade e detecção rápida
Dados espectrais abrangentes-valores e curvas de refletância de espectro total para análise completa
Medição Avançada de Cor-Amostragem integrada de esferas para caracterização precisa da cor do material
Medição de Reflectância Especular-Para superfícies polidas e materiais espelhados
Análise de refletância difusa-Ideal para superfícies e revestimentos ásperos/texturizados
Caracterização de cor de precisão-medição precisa de cor de materiais e acabamentos
| Modelo | BIX - 8811 - 0X1X (Nota modelo: 0X-Espectrômetro opção, 1X-Amostra opção de fixação) |
| Espectrômetro | 01: 200nm - 1100nm (BIM - 6002S - 22 - S03L02F06G13) |
| 02: 200nm - 900nm (BIM - 6002A - 01 - S03L02F06G01) | |
| 03: 400nm - 1100nm (BIM - 6002A - 13 - S03L01F05G02) | |
| Luminária de amostra | 11: 1 a 1 fibra (SIM-6102-1010-S/S - P) * 2ea Estágio de reflexão de ponto duplo (BIM - 6303) * 1ea |
| 12: Fibra tipo Y (SIM - 6102Y - 061016 - T/SS M) * 1ea Estágio de reflexão de ponto duplo (BIM - 6303) * 1ea | |
| 13: Esfera de integração para reflexão (SIM-3003-02501) * 1ea Estágio da esfera de integração (BIM-6316-25) * 1ea | |
| Fonte de luz | Fonte de luz de tungstênio deutério (BIM - 6203) * 1ea |
| Padrão | Padrão de refletância do espelho (SIM-6326-30) * 1ea |
| Padrão de refletância difusa (SIM-6304-30) * 1ea |
